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相關(guān)文章致茂Chroma 3650-EX SoC/Aanlog測(cè)試系統(tǒng) 50/100MHz測(cè)試工作頻率 1024個(gè) I/O 通道(I/O Channel) 32M (64M Max.) Pattern 記憶體 (Pattern Memory) Per-Pin 彈性資源架構(gòu) 512 DUTS 平行測(cè)試功能 96個(gè)電源通道 硬體規(guī)則模式產(chǎn)生器 (Algorithmic Pattern Gener
致茂Chroma 3680 *SoC/模擬測(cè)試系統(tǒng) 24個(gè)可互換插槽,用于數(shù)字,模擬和混合信號(hào)應(yīng)用 150 Mbps數(shù)據(jù)速率 (muxed模式蕞高1Gbps) 蕞高512 sites并行測(cè)試 多達(dá)2048個(gè)數(shù)字通道管腳 256 MW向量存儲(chǔ)深度 (512 MW可選配)(X2模式) 64通道高精度測(cè)量PMU
致茂Chroma 8000 光伏逆變器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng) 以Chroma 8000 ATS為基礎(chǔ)的客制化系統(tǒng),專門(mén)針對(duì)光伏逆變器測(cè)試驗(yàn)證。 Chroma 8000自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)配備了優(yōu)化的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試項(xiàng)目,針對(duì)光伏逆變器,符合EN50530、Sandia Lab、IEEE1547、1547.1、UL1741、中國(guó)國(guó)標(biāo)GB/T 19939、CGC/GF004/GF035(NB/T 32004)的電氣初步
Chroma7210光伏電池表面品質(zhì)檢查暨分色系統(tǒng) 安裝于前端網(wǎng)版印刷制程或終端分選設(shè)備 光伏電池正面或背面印刷瑕疵皆可檢測(cè) 可檢測(cè)PERC和Bifacial制程所產(chǎn)生的瑕疵
致茂Chroma 7231 光伏硅片線鋸痕檢測(cè)機(jī) 可整合到任何硅片分選機(jī)上 可調(diào)整式的演算法可供檢測(cè)5“、6“以及單晶、多晶、準(zhǔn)單晶等各種硅片 多樣化介面選擇可與不同設(shè)備或者M(jìn)ES系統(tǒng)連線 遵守EN 50513 2009來(lái)進(jìn)行硅片線鋸痕檢測(cè)